上光六廠(chǎng)體視熔點(diǎn)儀XR4A
- 價(jià)格 面議
商品詳情
產(chǎn)品特點(diǎn):
XR4A顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥、化工、紡織、橡膠等方面的生產(chǎn)化驗(yàn)、檢驗(yàn);高等院校化學(xué)系等部門(mén)對(duì)單晶或共晶等有機(jī)物質(zhì)的分析;工程材料和固體物理的研究;觀(guān)察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化等物理變化的過(guò)程提供了有利的熔點(diǎn)測(cè)定裝置。
技術(shù)參數(shù):
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性:±1℃ (在<200℃ 時(shí)),±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí))
溫度顯示最小值:0.1℃
熔點(diǎn)觀(guān)察方式 單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù) 40×